Tematyka niniejszej książki została ograniczona do zagadnień związanych z emisyjnością elekromagnetyczną urządzeń i systemów. Przedstawione zostały w niej zagadnienia związane z emisją zakłóceń elektromagnetycznych do środowiska, zarówno poprzez promieniowanie, jak i przewodzenie. Przedstawiono nie tylko metody pomiaru, ale również typowe stanowiska pomiarowe. Są one zgodne z zalecanymi w oficjalnych dokumentach powiązanych z Dyrektywą Rady Europy dotyczącą kompatybilności elektromagnetycznej.
W książce szczególną uwagę poświęcono zagadnieniom związanym z alternatywnymi, w odniesieniu do stanowiska na poligonie pomiarowym, metodami pomiaru zakłóceń promieniowanych.

Spis treści:

1. Wprowadzenie

2. Źródła zakłóceń elektromagnetycznych

3. Pomiar zakłóceń przewodzonych
3.1. Zasady pomiaru zakłóceń przewodzonych
3.2. Dopuszczalne poziomy zakłóceń przewodzonych
3.3. Urządzenia pomiarowe
3.4. Stanowiska pomiarowe oraz metodologia badań

4. Pomiar zakłóceń promieniowanych
4.1. Pomiar pola elektromagnetycznego
4.1.1. Zasady pomiaru promieniowanego pola
4.1.2. Dopuszczalne poziomy promieniowanego pola elektromagnetycznego
4.1.3. Urządzenia pomiarowe
4.1.4. Stanowiska pomiarowe oraz metodologia badań
4.2. Pomiar promieniowanej mocy
4.2.1. Zasady pomiaru promieniowanej mocy
4.2.2. Dopuszczalne poziomy promieniowanej mocy
4.2.3. Urządzenia pomiarowe
4.2.4. Stanowiska pomiarowe oraz metodologia badań

5. Alternatywne metody pomiaru promieniowanego pola
5.1. Model badanego obiektu
5.2. Pole elektromagnetyczne promieniowane przez ekwiwalentny dipol elektryczny
5.3. Pole elektromagnetyczne promieniowane przez ekwiwalentny dipol magnetyczny
5.4. Wypadkowe pole promieniowane przez badany obiekt
5.5. Układ anten ramowych w pomiarach emisyjności
5.6. Komora TEM w pomiarach emisyjności
5.7. Komora GTEM w pomiarach emisyjności

6. Uwagi końcowe
6.1. Testy oparte na niecentralnym rozkładzie
6.2. Testy oparte na rozkładzie dwumianowym

D. Dodatek
D1. Krótki rys historii normalizacji w zakresie kompatybilności elektromagnetycznej
D2. Komora GTEM w pomiarach podatności urządzeń

Literatura