W książce zaprezentowano problematykę związaną z badaniami kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrycznych i elektronicznych, a więc z badaniami emisyjności i wrażliwości. Na podstawie dostępnej literatury oraz prac własnych autora dokonano ogólnej charakterystyki środowiska elektromagnetycznego.
Szczególną uwagę poświęcono metodom symulacji umownych sygnałów testujących, stosowanych podczas badania wrażliwości urządzeń na zaburzenia elektromagnetyczne. Zaprezentowano metody badań symulujące zarówno bezpośrednie, jak i pośrednie oddziaływanie pola elektromagnetycznego na urządzenia. Oprócz analizy metod badania wrażliwości urządzeń na pola elektromagnetyczne zaprezentowano również przykłady praktycznych realizacji symulatorów i stanowisk pomiarowych stosowanych w badaniach. W opracowaniu prezentowanych symulatorów i stanowisk pomiarowych oraz metod pomiaru istotny wkład mial autor niniejszej książki.
Tematyka monografii nie została ograniczona do zagadnień związanych z wrażliwością na pola elektromagnetyczne (narażenia elektromagnetyczne). Przedstawiono również zagadnienia związane z emisją zakłóceń do środowiska zarówno przez promieniowanie, jak i przewodzenie.
Alternatywne metody pomiaru emisyjności zajmują szczególne miejsce. Zaprezentowano - niepublikowane w ogólnie dostępnej literaturze - rozwiązania nie tylko stanowisk pomiarowych, ale również zaproponowano oryginalne metody pomiaru. Porównano unormowane metody pomiarów wyko
nywanych na poligonie pomiarowym z metodami alternatywnymi.

Spis treści:

Ważniejsze oznaczenia

1. Wprowadzenie
1.1. Ocena wrażliwości urządzeń na zaburzenia elektromagnetyczne
1.2. Ocena emisyjności urządzeń
1.3. Tematyka książki

2. Środowisko elektromagnetyczne
2.1. Naturalne pola Ziemi
2.1.1. Naturalne pola magnetyczne
2.1.2. Naturalne pola elektryczne
2.1.3. Pola elektromagnetyczne wytwarzane przez wyładowania atmosferyczne
2.1.4. Pola elektromagnetyczne wytwarzane przez wyładowania w chmurach lub między chmurami
2.2. Pola elektromagnetyczne wytwarzane w celu niszczenia i zakłócania pracy urządzeń
2.2.1. Wybuch nuklearny
2.2.1.1. Wybuch na powierzchni Ziemi
2.2.1.2. Wybuch w atmosferze
2.2.1.3. Wybuch na dużej wysokości
2.2.2. Impulsy elektromagnetyczne wielkiej mocy
2.2.2.1. Generatory napędzane w wyniku wybuchu
2.2.2.2. Generatory magneto-hydrodynamiczne (MHD)
2.2.2.3. Źródła wysokoenergetycznych impulsów mikrofalowych
2.3. Zaburzenia wywoływane przez wyładowania elektrostatyczne
2.4. Pole elektromagnetyczne wykorzystywane do przenoszenia informacji
2.5. Zaburzenia stanowiące produkt uboczny technicznej działalności człowieka
2.5.1. Zaburzenia wywoływane przez niezamierzone emisje pola elektromagnetycznego
2.5.2. Zaburzenia wywoływane przepięciami i innymi zjawiskami występującymi w sieci zasilającej

3. Oddziaływanie zaburzeń elektromagnetycznych na urządzenia
3.1. Narażenia wywołane bezpośrednim oddziaływaniem zaburzeń
3.1.1. Wyładowania atmosferyczne
3.1.2. Wybuchy nuklearne
3.1.3. Wyładowania elektrostatyczne
3.1.4. Pola elektromagnetyczne wytwarzane przez człowieka
3.2. Pośrednie oddziaływanie zaburzeń
3.2.1. Zaburzenia w liniach zasilających
3.2.1.1. Zaburzenia wywołane wyładowaniami atmosferycznymi
3.2.1.2. Zaburzenia wywołane pracą urządzeń nadawczych
3.2.1.3. Zaburzenia wywołane procesami łączeniowymi i przełączeniowymi
3.2.1.4. Zaburzenia wywołane oddziaływaniem urządzeń dołączonych do sieci
3.2.2. Zaburzenia w obwodach interfejsowych, torach sygnałowych i telekomunikacyjnych
3.2.3. Zaburzenia w antenach i krótkich elementach przewodzących

4. Metody badania wrażliwości urządzeń na zaburzenia elektromagnetyczne
4.1. Bezpośrednie metody badania wrażliwości urządzeń
4.1.1. Symulatory pola elektromagnetycznego z falą prowadzoną
4.1.1.1. Symulatory impulsowego pola elektromagnetycznego
4.1.1.2. Symulatory ciągłego pala elektromagnetycznego
4.1.2. Promieniujące symulatory pola elektromagnetycznego
4.1.2.1. Symulatory impulsowego pola elektromagnetycznego
4.1.2.2. Symulatory ciągłego pola elektromagnetycznego
4.1.3. Symulatory wyładowań elektrostatycznych
4.1.4. Symulatory wyładowań atmosferycznych
4.2. Pośrednie metody badania wrażliwości urządzeń
4.2.1. Generatory zaburzeń ciągłych i układy sprzęgające
4.2.1.1. Generatory zaburzeń ciągłych
4.2.1.2. Urządzenia sprzęgające i odsprzęgające
4.2.2. Generatory impulsów unipolarnych i układy sprzęgające
4.2.3. Generatory tłumionych impulsów oscylacyjnych i układy sprzęgające
4.2.4. Generatory impulsów nanosekundowych i układy sprzęgające
4.2.5. Generatory umownych zaburzeń typu spike
4.2.6. Symulator impulsów elektrostatycznych
4.2.7. Symulatory zaników i wahnięć napięcia zasilania

5. Badania wrażliwości urządzeń na zaburzenia elektromagnetyczne
5.1. Badanie odporności metodami bezpośrednimi
5.1.1. Stanowisko do badania wrażliwości na impulsowe zaburzenia elektromagnetyczne z symulatorem prowadzącym falę
5.1.2. Stanowisko do badania wrażliwości na impulsowe zaburzenia elektromagnetyczne z symulatorem promieniującym
5.1.3. Stanowisko do badania wrażliwości na ciągłe pola elektromagnetyczne
5.1.4. Przykład badania instalacji metodą bezpośrednią
5.1.5. Stanowisko do badania wrażliwości na wyładowania elektrostatyczne
5.1.6. Stanowisko do badania wrażliwości na wyładowania atmosferyczne
5.2. Badanie wrażliwości urządzeń metodami pośrednimi
5.2.1. Stanowiska do badania wrażliwości na zaburzenia ciągłe
5.2.2. Stanowiska do badania wrażliwości na zaburzenia impulsowe
5.2.2.1. Stanowisko do badania wrażliwości na zaburzenia unipolarne (1,2/50 ?s, 8/20 ?s)
5.2.2.2. Stanowisko do badania wrażliwości na zaburzenia o postaci gasnącej fali oscylacyjnej
5.2.2.3. Stanowisko do badania wrażliwości na zaburzenia unipolarne 0,5/700 ?s, 10/700 ?s i 100/700 ?s
5.2.2.4. Stanowisko do badania wrażliwości na zaburzenia o nanosekundowych czasach narastania
5.2.2.5. Stanowisko do badania wrażliwości na zaburzenia o postaci impulsów szpilkowych

6. Pomiar zaburzeń przewodzonych
6.1. Zasady pomiaru zaburzeń przewodzonych
6.2. Dopuszczalne poziomy zaburzeń przewodzonych
6.3. Urządzenia pomiarowe
6.4. Stanowiska pomiarowe oraz metodologia badań

7. Pomiar zaburzeń promieniowanych
7.1. Pomiar promieniowanego pola elektromagnetycznego
7.1.1. Zasady pomiaru promieniowanego pola
7.1.2. Dopuszczalne poziomy promieniowanego pola elektromagnetycznego
7.1.3. Urządzenia pomiarowe
7.1.4. Stanowiska pomiarowe oraz metodologia badań
7.2. Pomiar promieniowanej mocy
7.2.1. Zasady pomiaru promieniowanej mocy
7.2.2. Dopuszczalne poziomy promieniowanych mocy
7.2.3. Urządzenia pomiarowe
7.2.4. Stanowiska pomiarowe oraz metody badań

8. Alternatywne metody pomiaru promieniowanego pola
8.1. Model badanego urządzenia
8.2. Pole elektromagnetyczne promieniowane przez ekwiwalentny dipol elektryczny
8.3. Pole elektromagnetyczne promieniowane przez ekwiwalentny dipol magnetyczny
8.4. Wypadkowe pole promieniowane przez badane urządzenie
8.5. Układ anten ramowych w pomiarach emisyjności
8.6. Komora TEM w pomiarach emisyjności
8.7. Komora GTEM w pomiarach emisyjności

9. Uwagi końcowe

Literatura